4421. VLSI technology and design
پدیدآورنده: / edited by J.V. McCanny and J.C. White
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration
رده :
TK
7874
.
V5663
1987
4422. VLSI, technology and design
پدیدآورنده: edited by Otto G. Folberth, Warren D. Grobman
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع: ، Integrated circuits - Very large scale integration
رده :
TK
7874
.
V566
1984
4423. VLSI technology and design
پدیدآورنده: edited by J.V. McCanny and J.C. White
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits -- Very large scale integration
رده :
TK
7874
.
M3
4424. VLSI technology and design
پدیدآورنده: edited by J.V. McCanny and J.C. White
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع: Very large scale integration ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
V5663
1987
4425. VLSI, technology and sedign
پدیدآورنده: edited by Otto G. Folberth, Warren D. Grobman
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale untegration ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
V5663
1984
4426. VLSI test principles and architectures
پدیدآورنده: / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing,Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design
رده :
TK
7874
.
75
.
V587
2006
4427. VLSI test principles and architectures :
پدیدآورنده: edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Circuits intégrés à très grande échelle-- Conception et construction.,Circuits intégrés à très grande échelle-- Essais.,Circuitos integrados vlsi.,COMPUTERS-- Logic Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- Logic.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- VLSI & ULSI.,Testen,VLSI
رده :
TK7874
.
75
.
V587
2006eb
4428. VLSI testing
پدیدآورنده: edited by T.W. Williams
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
V5666
1986
4429. VLSI testing :
پدیدآورنده: Stanley L. Hurst
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
4430. VLSI testing: Digital and mixed analogue / digital techniques
پدیدآورنده: Hurst, Stanley Leonard
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale inegration - Testing
رده :
TK
7874
.
H87
1998
4431. VLSI testing: digital and mixed analogue/digital techniques
پدیدآورنده : Hurst, Stanley L.
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
۲ نسخه از این کتاب در ۱ کتابخانه موجود است.
4432. VLSI testing : digital and mixed analogoue /digital techniques
پدیدآورنده: Hurst, S. L.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع: Testing ، Integrated circuits - Very large scale integration
رده :
TK
7874
.
H8
1998
4433. VLSI testing: digital and mixed analogue/ digital techniques
پدیدآورنده: Hurst, Stanley L.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
H87
1998
4434. VLSI 81, very large scale integration
پدیدآورنده: edited by John P. Gray
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits - Large scale integration - Congresses
رده :
TK
874
.
V4
4435. VLSi systems design for digital singal processing
پدیدآورنده: Bowen, B.A.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Digital techniques ، Signal processing,Very large scale integration ، Integrated circuits
رده :
TK
7868
.
D5
B68
1982
4436. Variation tolerant on-chip interconnects
پدیدآورنده: / Ethiopia Enideg Nigussie
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Interconnects (Integrated circuit technology),Integrated circuits--Fault tolerance
رده :
TK7874
.
53
.
N54
2012
4437. Verification by error modeling
پدیدآورنده: / written by Katarzyna Radecka, Zeljko Zilic
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration--Computer-aided design,Integrated circuits--Verification,Error analysis (Mathematics)
رده :
TK
,
7874
.
75
,.
R33
,
2003
4438. Verification by error modeling
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: aided design. ; Integrated circuits ; Verification. ; Error analysis (Mathematics) ; -Integrated circuits ; Very large scale integration ; Computer
4439. Verification by error modeling
پدیدآورنده: / written by Katarzyna Radecka, Zeljko Zilic
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Computer-aided design,Integrated circuits -- Verification
رده :
TK
7874
.
75
.
R33
2003
4440. Verification methodology manual for SystemVerilog
پدیدآورنده: / by Janick Bergeron ... [et al.].
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم (دانشگاه تهران) (تهران)
موضوع: Verilog (Computer hardware description language), Integrated circuits--Verification.
رده :
TK
7885
.
7
.
V44
2006
